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美国爱荷华州立大学陈德刚教授来半导体所交流

2019-06-24
    

 

应(ying)半导体所半导体超(chao)晶格国家重点实验室(shi)刘力(li)源研究员的邀(yao)请, 20196月(yue)11日上(shang)午,美国爱荷(he)华州立(li)大学的陈德刚教(jiao)授来半导体所进(jin)行学术交(jiao)流,并在黄(huang)昆半导体科学技术(shu)论坛上(shang)作第342期报告。

交流会上,陈德(de)刚教授作了题为“Cost-Effective Techniques for Analog Design, Analog Fault Coverage, and Fast and Accurate Testing of High Resolution ADCs 的学(xue)术报告,系统地(di)介绍(shao)了高性能模拟集成(cheng)电(dian)路的设(she)计以及快速测试方法(fa)学(xue),对(dui)面向5G以及IoT应用(yong)的高性能模拟(ni)电路设计(ji)及测试(shi))进行(xing)了精辟的阐述,发(fa)表了自己独到的见解,并与(yu)在(zai)座的30余名博士和(he)硕(shuo)士研究(jiu)生进(jin)行了热烈的讨论和(he)交流(liu),使(shi)大(da)家受益匪浅。

此外,半(ban)导体所吴南健研究员与陈(chen)德刚教授进行(xing)了座谈,大家(jia)感谢他在(zai)百忙之中来半(ban)导体所作学(xue)术(shu)报告(gao)并进行(xing)学(xue)术(shu)交流(liu),希望双方(fang)能进一步(bu)加强合(he)作,不断促进我(wo)所与爱荷华州立大学(xue)的友(you)好合(he)作关系。

 

 

 

          

 

  


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